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会员动态 | 国产高端仪器 发力超痕量检测

来源: 时间: 2026-04-10  浏览量:57 关闭

当检测要求从 ppm(百万分之一)、ppt(万亿分之一)续向更低浓度推进,超痕量金属检测能力,正成为高端制造中的关键一环

2026年,聚光科技自主孵化子公司谱育科技正式推出EXPEC 7350S Plus系列三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS/MS

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该产品依托成熟ICP-MS技术平台,面向半导体及高端制造场景完成专项升级。

01

良率的隐形杀手

金属杂质必须被看见

随着集成电路持续迈向先进制程,对残留金属杂质控制水平的要求不断提高,相关检测能力已下探至sub-ppt级(十万亿分之一),部分场景甚至达到ppq级(千万亿分之一)。

检测能力不足,可能导致批量晶圆良率下降。长期以来,相关高端检测设备市场主要由海外厂商主导

EXPEC 7350S Plus的推出,体现了国产仪器在超痕量检测领域的进一步突破


                                02

四大能力进阶

测得出测得准、测得稳

EXPEC 7350S Plus 不是简单性能叠加,而是围绕半导体超痕量检测场景,对自主可控、检测灵敏度、产线适配、定制响应四项能力进行深度升级。

全自主可控:核心软硬件自研,安全更有保障

sub-ppt级灵敏度:在十万亿分之一中精准“捕获”金属杂质

VPD全自动联用:从实验室到产线,检测流程无缝衔接

敏捷响应本土需求:更贴近国内应用场景

03

用在哪里

半导体、高纯材料、高端制造


半导体/电子12英寸晶圆表面金属离子分析、碳化硅片检测

高纯材料:超纯湿电子化学品、电子特气、高纯金属溅射靶材纯度分析

其他领域:各类超痕量元素分析及相关工业检测场景

04

不止于检测

国产高端仪器的使命与进阶

当半导体制造持续迈向更先进工艺,分析检测设备早已不只是实验室工具,更是先进制造体系的重要支撑。

从关键硬件与软件体系自主开发,到sub-ppt级超痕量检测能力提升,再到面向VPD联用与产线流程的深度适配。

EXPEC 7350S Plus系列三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS,体现了国产高端科学仪器半导体关键检测场景中的持续进阶。

聚光科技将持续深耕高端分析检测技术,依托ICP-MS系列的技术积累与产业化经验,为半导体及高端制造领域提供更可靠、更自主、更高效的分析检测解决方案。


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